Inverted scanning microwave microscopy of GaN/AlN high-electron mobility transistors

Wang, Xiaopeng, Nomoto, Kazuki, Fabi, Gianluca, Hadi, Richard Al, Farina, Marco, Jena, Debdeep, Xing, Huili Grace et Hwang, James C. M.. 2024. « Inverted scanning microwave microscopy of GaN/AlN high-electron mobility transistors ». In 103rd ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) (Washington, DC, USA, June 21, 2024) IEEE.

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Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Al Hadi, Richard
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 oct. 2024 20:28
Dernière modification:	18 oct. 2024 20:28
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/29662

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