Manufacturing performance evaluation in wafer semiconductor factories

Montoya-Torres, Jairo R.. 2006. « Manufacturing performance evaluation in wafer semiconductor factories ». International Journal of Productivity and Performance Management, vol. 55, nº 3-4. pp. 300-310.
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URL Officielle: https://doi.org/10.1108/17410400610653246

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Montoya Torres, Jairo
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	22 nov. 2024 21:51
Dernière modification:	22 nov. 2024 21:51
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/29962

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