Bernier, Simon, Parpal, Jean-Luc, David, Éric, Jean, Daniel et Lalancette, Daniel.
2008.
« Dielectric response of laboratory aged PE cables ».
In Conference Record of the 2008 IEEE International Symposium on Electrical Insulation (ISEI) (Vancouver, Canada, June 9-12, 2008)
pp. 645-649.
Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers.
Compte des citations dans Scopus : 3.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/ELINSL.2008.4570414
Type de document: | Compte rendu de conférence |
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ISBN: | 978-1-4244-2091-9 |
Professeur: | Professeur David, Éric |
Affiliation: | Génie mécanique |
Date de dépôt: | 30 oct. 2012 18:19 |
Dernière modification: | 30 oct. 2012 18:19 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3038 |
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