On the test-time zero-shot generalization of vision-language models: Do we really need prompt learning?

Zanella, Maxime et Ben Ayed, Ismail. 2024. « On the test-time zero-shot generalization of vision-language models: Do we really need prompt learning? ». In IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR) (Seattle, WA, USA, June 16-22, 2024) pp. 23783-23793. Institute of Electrical and Electonics Engineers Inc..
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Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	979-8-3503-5300-6
Professeur:	Professeur Ben Ayed, Ismail
Affiliation:	Génie des systèmes
Date de dépôt:	13 févr. 2025 16:45
Dernière modification:	13 févr. 2025 16:45
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/30519

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