Lévesque, M., Hudon, C., Belec, M. et David, Éric.
2008.
« Evolution of slot partial discharges under electrical, thermal and mechanical stresses ».
In Conference Record of the 2008 IEEE International Symposium on Electrical Insulation (ISEI) (Vancouver, Canada, June 9-12, 2008)
pp. 153-157.
Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers.
Compte des citations dans Scopus : 5.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/ELINSL.2008.4570299
| Type de document: | Compte rendu de conférence |
|---|---|
| ISBN: | 978-1-4244-2091-9 |
| Chercheur(-euse): | Chercheur(-euse) David, Éric |
| Affiliation: | Génie mécanique |
| Date de dépôt: | 30 oct. 2012 18:19 |
| Dernière modification: | 30 oct. 2012 18:19 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3083 |
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