Dielectric characterization of high density polyethylene/SiO2 nanocomposites

Sami, A., David, Éric et Fréchette, Michel F.. 2009. « Dielectric characterization of high density polyethylene/SiO2 nanocomposites ». In IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP) (Virginia Beach, VA, USA, Oct. 18-21, 2009) pp. 689-692. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..
Compte des citations dans Scopus : 7.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.

Rechercher dans Google Scholar

URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/CEIDP.2009.5377742

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	9781424445592
Professeur:	Professeur David, Éric
Affiliation:	Génie mécanique
Date de dépôt:	30 oct. 2012 18:19
Dernière modification:	30 oct. 2012 18:19
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3108

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt