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Dielectric characterization of high density polyethylene/SiO2 nanocomposites

Sami, A., David, Éric et Fréchette, Michel F.. 2009. « Dielectric characterization of high density polyethylene/SiO2 nanocomposites ». In IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP) (Virginia Beach, VA, USA, Oct. 18-21, 2009) pp. 689-692. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..
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Type de document: Compte rendu de conférence
ISBN: 9781424445592
Professeur:
Professeur
David, Éric
Affiliation: Génie mécanique
Date de dépôt: 30 oct. 2012 18:19
Dernière modification: 30 oct. 2012 18:19
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3108

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