Heuristic prediction of the optimum number of spares in defect-tolerant integrated circuits

Thibeault, Claude, Savaria, Yvon et Houle, J. L.. 1992. « Heuristic prediction of the optimum number of spares in defect-tolerant integrated circuits ». Journal of Circuits, Systems and Computers, vol. 2, nº 2. pp. 81-100.

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Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	19 févr. 2013 16:25
Dernière modification:	19 févr. 2013 16:25
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3209

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