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Time-resolved mapping of charge carrier dynamics and defect-mediated migration barriers in TiO2

Guner, Bugrahan, Safikhani-Mahmoudi, Mohammad et Dagdeviren, Omur E.. 2025. « Time-resolved mapping of charge carrier dynamics and defect-mediated migration barriers in TiO2 ». Journal of Physical Chemistry C, vol. 129, nº 37. pp. 16879-16886.

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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Dagdeviren, Omur
Affiliation: Génie mécanique
Date de dépôt: 07 oct. 2025 12:12
Dernière modification: 07 oct. 2025 12:12
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/32332

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