Guner, Bugrahan, Safikhani-Mahmoudi, Mohammad et Dagdeviren, Omur E..
2025.
« Time-resolved mapping of charge carrier dynamics and defect-mediated migration barriers in TiO2 ».
Journal of Physical Chemistry C, vol. 129, nº 37.
pp. 16879-16886.
Rechercher dans Google Scholar
URL Officielle: https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.5c04615
Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
---|---|
Professeur: | Professeur Dagdeviren, Omur |
Affiliation: | Génie mécanique |
Date de dépôt: | 07 oct. 2025 12:12 |
Dernière modification: | 07 oct. 2025 12:12 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/32332 |
Actions (Authentification requise)
![]() |
Dernière vérification avant le dépôt |