Ahmad, Redwan, Blanchard, François et Al Hadi, Richard.
2025.
« Characterization and polarization sensitivity analysis of CMOS terahertz detector ».
In Photonics North (PN) (Ottawa, ON, Canada, May 20-23, 2025)
Piscataway, NJ, USA : IEEE.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/PN66844.2025.11097144
| Type de document: | Compte rendu de conférence |
|---|---|
| Chercheur(-euse): | Chercheur(-euse) Blanchard, François Al Hadi, Richard |
| Affiliation: | Génie électrique, Génie électrique |
| Date de dépôt: | 23 oct. 2025 16:05 |
| Dernière modification: | 23 oct. 2025 16:05 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/32611 |
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