Characterization and polarization sensitivity analysis of CMOS terahertz detector

Ahmad, Redwan, Blanchard, François et Al Hadi, Richard. 2025. « Characterization and polarization sensitivity analysis of CMOS terahertz detector ». In Photonics North (PN) (Ottawa, ON, Canada, May 20-23, 2025) Piscataway, NJ, USA : IEEE.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.

Rechercher dans Google Scholar

URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/PN66844.2025.11097144

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Blanchard, François Al Hadi, Richard
Affiliation:	Génie électrique, Génie électrique
Date de dépôt:	23 oct. 2025 16:05
Dernière modification:	23 oct. 2025 16:05
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/32611

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt