UIS ruggedness of Si/SiC hybrid switches

Zhang, Chuanqi, Song, Xuanting, Liang, Shiwei, Dai, Yuxing, Wang, Jun et Al-Haddad, Kamal. 2025. « UIS ruggedness of Si/SiC hybrid switches ». In IEEE Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia (WiPDA Asia) (Beijing, China, Aug. 15-17, 2025) Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..

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Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Al Haddad, Kamal
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	14 nov. 2025 17:42
Dernière modification:	14 nov. 2025 17:42
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/32974

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