Simulation-based analysis of TEV sensor sensitivity for partial discharge detection

Abbasi, Mahdi, Lachance, Mathieu et David, Eric. 2025. « Simulation-based analysis of TEV sensor sensitivity for partial discharge detection ». In IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP) (Manchester, UK, Sept. 14-17, 2025) pp. 113-116. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..

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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/CEIDP61707.2025.11218596

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur David, Éric
Affiliation:	Génie mécanique
Date de dépôt:	07 janv. 2026 19:25
Dernière modification:	07 janv. 2026 19:25
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/33163

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