Programmable impulse and random noise generation circuit for power integrity tests

Piraghaj, Sudabeh Fotoohi et Constantin, Nicolas G.. 2025. « Programmable impulse and random noise generation circuit for power integrity tests ». In IEEE 38th International System-on-Chip Conference (SOCC) (Dubai, UAE, Sept. 29-Oct. 01, 2025) IEEE Computer Society.

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URL Officielle: https://doi.org/10.1109/SOCC66126.2025.11235408

Type de document:	Compte rendu de conférence
Chercheur(-euse):	Chercheur(-euse) Constantin, Nicolas
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	03 mars 2026 20:27
Dernière modification:	03 mars 2026 20:27
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/33431

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