Thibeault, Claude, Savaria, Yvon et Houle, Jean louis.
1992.
« Test quality of hierarchical defect-tolerant integrated circuits ».
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, vol. 3, nº 1.
pp. 93-102.
Compte des citations dans Scopus : 3.
Rechercher dans Google Scholar
URL Officielle: https://doi.org/10.1007/BF00159834
| Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Thibeault, Claude |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 19 févr. 2013 16:26 |
| Dernière modification: | 07 sept. 2024 17:34 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3584 |
Actions (Authentification requise)
 |
Dernière vérification avant le dépôt |