Using fourier analyses to enhance IC testability

Thibeault, Claude. 1995. « Using fourier analyses to enhance IC testability ». Journal of Microelectronic Systems Integration, vol. 3, nº 2. pp. 83-96.

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Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	19 févr. 2013 16:26
Dernière modification:	19 févr. 2013 16:26
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3585

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