Belzile, Jean, Thibeault, Claude, Gagnon, François et Batani, Naïm K. (inventeurs) 16 octobre 2007. « Method and apparatus for testing a device in an electronic component ». Socovar S.E.C, Thibeault, Claude, Gagnon, François (titulaire(s)). Brevet américain US 7,284,178.
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URL Officielle: https://patentcenter.uspto.gov/applications/104217...
| Type de document: | Brevet (Brevet américain) |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Belzile, Jean Thibeault, Claude Gagnon, François Batani, Naïm |
| Affiliation: | Génie électrique, Génie électrique, Génie électrique, Génie électrique |
| Date de dépôt: | 18 avr. 2013 19:00 |
| Dernière modification: | 29 nov. 2022 22:21 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3868 |
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