Belzile, Jean, Thibeault, Claude, Gagnon, François et Batani, Naïm K. (inventeurs) 16 October 2007. « Method and apparatus for testing a device in an electronic component ». Socovar S.E.C, Thibeault, Claude, Gagnon, François (titulaire(s)). Brevet américain US 7,284,178.
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Official URL: http://patft.uspto.gov/netacgi/nph-Parser?Sect1=PT...
| Item Type: | Patents (Brevet américain) | |||||
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| Professor: |
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| Affiliation: | Génie électrique, Génie électrique, Génie électrique, Génie électrique | |||||
| Date Deposited: | 18 Apr 2013 19:00 | |||||
| Last Modified: | 26 Aug 2019 20:20 | |||||
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3868 |
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