Macdonald, Richard.
2001.
« Design and implementation of a dual-energy X-ray imaging system for organic material detection in an airport security application ».
In Conference on Machine Vision Applications in Industrial Inspection IX (San Jose, CA, USA, Jan. 22-23, 2001)
Coll. « Proceedings of SPIE », vol. 4301.
pp. 31-41.
USA : SPIE.
Compte des citations dans Scopus : 30.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1117/12.420922
Type de document: | Compte rendu de conférence |
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ISBN: | 0-8194-3979-7 |
Éditeurs: | Éditeurs ORCID Hunt, M. A. NON SPÉCIFIÉ |
Professeur: | Professeur Macdonald, Richard |
Affiliation: | Génie de la production automatisée |
Date de dépôt: | 18 avr. 2013 19:01 |
Dernière modification: | 18 avr. 2013 19:01 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4036 |
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