Trudel, Sylvie et Abran, Alain.
2011.
« Bidirectional influence of defects and functional size ».
In Joint Conference of the 21st International Workshop on Software Measurement and the 6th International Conference on Software Process and Product Measurement (IWSM-MENSURA) (Nara, Japan, Nov. 3-4, 2011)
pp. 69-75.
Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/IWSM-MENSURA.2011.21
| Type de document: | Compte rendu de conférence |
|---|---|
| ISBN: | 978-1-4577-1930-1 |
| Professeur: | Professeur Abran, Alain |
| Affiliation: | Génie logiciel et des technologies de l'information |
| Date de dépôt: | 18 avr. 2013 19:02 |
| Dernière modification: | 18 avr. 2013 19:02 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4142 |
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