A novel probabilistic approach for IC diagnosis based on differential quiescent current signatures

Thibeault, Claude. 1997. « A novel probabilistic approach for IC diagnosis based on differential quiescent current signatures ». In 15th IEEE VLSI Test Symposium (Monterey, CA, USA, Apr. 27-May 1, 1997) pp. 80-85. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.

Rechercher dans Google Scholar

URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/VTEST.1997.599445

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	0-8186-7810-0
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:04
Dernière modification:	18 avr. 2013 19:04
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4715

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt