ENGLISH
La vitrine de diffusion des publications et contributions des chercheurs de l'ÉTS
RECHERCHER

A novel probabilistic approach for IC diagnosis based on differential quiescent current signatures

Thibeault, Claude. 1997. « A novel probabilistic approach for IC diagnosis based on differential quiescent current signatures ». In 15th IEEE VLSI Test Symposium (Monterey, CA, USA, Apr. 27-May 1, 1997) pp. 80-85. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.
Rechercher dans Google Scholar
Type de document: Compte rendu de conférence
ISBN: 0-8186-7810-0
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:04
Dernière modification: 18 avr. 2013 19:04
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4715

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt Dernière vérification avant le dépôt