Increasing current testing resolution

Thibeault, Claude. 1998. « Increasing current testing resolution ». In IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Austin, TX, USA, Nov. 2-4, 1998) pp. 126-134. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/DFTVS.1998.732159

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	0-8186-8832-7
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:04
Dernière modification:	18 avr. 2013 19:04
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4716

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