On the comparison of Δ IDDQ and IDDQ testing

Thibeault, Claude. 1999. « On the comparison of Δ IDDQ and IDDQ testing ». In 17th IEEE VLSI Test Symposium (Dana Point, CA, USA, Apr. 25-29, 1999) pp. 143-150. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/VTEST.1999.766658

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	0-7695-0146-X
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:04
Dernière modification:	11 juill. 2022 18:23
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4717

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