An histogram based procedure for current testing of active defects

Thibeault, Claude. 1999. « An histogram based procedure for current testing of active defects ». In International Test Conference (Atlantic City, NJ, USA, Sept. 28-30, 1999) pp. 714-723. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/TEST.1999.805800

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	0-7803-5753-1
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:04
Dernière modification:	18 avr. 2013 19:04
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4718

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