Thibeault, Claude.
2000.
« Efficient diagnosis of single/double bridging faults with Delta Iddq probabilistic signatures and Viterbi algorithm ».
In 18th IEEE VLSI Test Symposium (Montreal, Canada, Apr. 30-May 4, 2000)
pp. 431-438.
Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
Rechercher dans Google Scholar
URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/VTEST.2000.843875
Type de document: | Compte rendu de conférence |
---|---|
ISBN: | 0-7695-0613-5 |
Professeur: | Professeur Thibeault, Claude |
Affiliation: | Génie électrique |
Date de dépôt: | 18 avr. 2013 19:04 |
Dernière modification: | 18 avr. 2013 19:04 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4719 |
Actions (Authentification requise)
Dernière vérification avant le dépôt |