Speeding-up IDDQ measurements

Thibeault, Claude. 2002. « Speeding-up IDDQ measurements ». In 20th IEEE VLSI Test Symposium (Monterey, CA, USA, Apr. 28-May 2, 2002) pp. 295-301. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.

Rechercher dans Google Scholar

URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/VTS.2002.1011157

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	0-7695-1570-3
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:04
Dernière modification:	18 avr. 2013 19:04
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4721

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt