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Speeding-up IDDQ measurements

Thibeault, Claude. 2002. « Speeding-up IDDQ measurements ». In 20th IEEE VLSI Test Symposium (Monterey, CA, USA, Apr. 28-May 2, 2002) pp. 295-301. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.

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Type de document: Compte rendu de conférence
ISBN: 0-7695-1570-3
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:04
Dernière modification: 18 avr. 2013 19:04
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4721

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