On new current signatures and adaptive test technique combination

Thibeault, Claude. 2004. « On new current signatures and adaptive test technique combination ». In 22nd IEEE VLSI Test Symposium (Napa Valley, CA, USA, Apr. 25-29, 2004) pp. 59-64. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/vtest.2004.1299226

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	0-7695-2134-7
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:04
Dernière modification:	18 avr. 2013 19:04
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4722

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