On the potential of flush delay for characterization and test optimization

Thibeault, Claude. 2004. « On the potential of flush delay for characterization and test optimization ». In IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing (DBT) (Napa Valley, CA, USA, Apr. 25, 2004) pp. 55-60. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/DBT.2004.1408956

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	0-7803-8950-6
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:04
Dernière modification:	18 avr. 2013 19:04
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4723

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