Thibeault, Claude et Boisvert, L..
  
		1998.
  
« Diagnosis method based on Iddq probabilistic signatures : experimental results ».
    In IEEE International Test Conference (Washington, DC, USA, Oct. 18-21, 1998)
	
	pp. 1019-1026.
    Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers.
 	 Compte des citations dans Scopus : 25.  
  
  
  
               
               
			
				
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      URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/TEST.1998.743299
    
  
  
  
  | Type de document: | Compte rendu de conférence | 
|---|---|
| ISBN: | 0-7803-5093-6 | 
| Professeur: | Professeur Thibeault, Claude  | 
        
| Affiliation: | Génie électrique | 
| Date de dépôt: | 18 avr. 2013 19:04 | 
| Dernière modification: | 18 avr. 2013 19:04 | 
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4725 | 
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