Experimental results from I-DDF testing

Thibeault, Claude et Payeur, A.. 1996. « Experimental results from I-DDF testing ». In IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Boston, MA, USA, Nov. 6-8, 1996) pp. 185-193. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.

Rechercher dans Google Scholar

URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/DFTVS.1996.572024

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	0-8186-7545-4
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:04
Dernière modification:	18 avr. 2013 19:04
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4726

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt