Bing, Qiu, Savaria, Yvon, Meng, Lu, Chunyan, Wang et Thibeault, Claude.
2002.
« Yield modeling of a WSI telecom router architecture ».
In 17th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Vancouver, BC, Canada, Nov. 6-8, 2002)
pp. 314-321.
Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/DFTVS.2002.1173528
Type de document: | Compte rendu de conférence |
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Professeur: | Professeur Thibeault, Claude |
Affiliation: | Génie électrique |
Date de dépôt: | 24 juill. 2013 20:43 |
Dernière modification: | 15 août 2014 14:46 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/5034 |
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