Bouanga, C. Vanga, Savoie, S., Fréchette, M. F., Couderc, H. et David, Éric.
2012.
« Electrical resistivity characterization of silicon carbide by various methods ».
In Conference Record of the 2012 IEEE International Symposium on Electrical Insulation (ISEI) (San Juan, PR, USA, June 10-13, 2012 )
pp. 43-47.
Piscataway, N.J. : Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..
Compte des citations dans Scopus : 7.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/ELINSL.2012.6251423
| Type de document: | Compte rendu de conférence |
|---|---|
| ISBN: | 01642006 |
| Chercheur(-euse): | Chercheur(-euse) David, Éric |
| Affiliation: | Génie mécanique |
| Date de dépôt: | 24 juill. 2013 20:44 |
| Dernière modification: | 24 juill. 2013 20:44 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/5223 |
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