Bouanga, C. Vanga et Savoie, S. et Fréchette, M. F. et Couderc, H. et David, Éric (2012) Electrical resistivity characterization of silicon carbide by various methods. In: NON SPÉCIFIÉ, June 10-13, 2012 , San Juan, PR, USA.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/ELINSL.2012.6251423
| Type de document: | Document issu d'une conférence ou d'un atelier (NON SPÉCIFIÉ) |
|---|---|
| Déposé par: | Gaston Fournier |
| Date de dépôt: | 24 juill. 2013 20:44 |
| Dernière modification: | 24 juill. 2013 20:44 |
| URI: | http:///id/eprint/5223 |
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