The contribution of functional size measurers in defects inspections : a case study with inexperienced measurers

Trudel, Sylvie et Abran, Alain. 2010. « The contribution of functional size measurers in defects inspections : a case study with inexperienced measurers ». International Journal of Computing and Information Sciences, vol. 11, nº 3.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.

Rechercher dans Google Scholar

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Abran, Alain
Affiliation:	Génie logiciel et des technologies de l'information
Date de dépôt:	23 mai 2012 17:56
Dernière modification:	23 mai 2012 17:56
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/544

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt