Palza, Edgardo, Abran, Alain et Fuhrman, Christopher.
2004.
« V&V Measurements Management Issues in Safety-Critical Software ».
In Software Measurement - Research and Application : Proceedings of the International Workshop on Software Metrics and DASMA Software Metrik Kongress IWSM/MetriKon 2004 (Berlin, Germany, Nov. 2-5, 2004)
pp. 67-75.
Aachen, Germany : Shaker Verlag.
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Type de document: | Compte rendu de conférence |
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Éditeurs: | Éditeurs ORCID Abran, Alain NON SPÉCIFIÉ Bundschuh, Manfred NON SPÉCIFIÉ Büren, Günter NON SPÉCIFIÉ Dumke, Reiner R. NON SPÉCIFIÉ |
Professeur: | Professeur Abran, Alain Fuhrman, Christopher |
Affiliation: | Génie logiciel et des technologies de l'information |
Date de dépôt: | 04 oct. 2013 15:30 |
Dernière modification: | 19 oct. 2023 16:23 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/5891 |
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