Tailoring of the electrical properties of silicon carbide for field grading application

Vanga-Bouanga, C., Heid, T. F., David, Éric, Frechette, M. F. et Savoie, S.. 2013. « Tailoring of the electrical properties of silicon carbide for field grading application ». In 2013 31st IEEE Electrical Insulation Conference (EIC 2013) (Ottawa, ON, Canada, June 2-5, 2013) pp. 263-266. Piscataway, NJ, USA : IEEE.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/EIC.2013.6554246

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur David, Éric
Affiliation:	Génie mécanique
Date de dépôt:	04 déc. 2013 19:07
Dernière modification:	06 déc. 2013 19:16
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/6099

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