A methodology for system-level fault injection based on gate-level faulty behavior

Robache, R., Boland, Jean-François, Thibeault, Claude et Savaria, Y.. 2013. « A methodology for system-level fault injection based on gate-level faulty behavior ». In 2013 IEEE 11th International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS) (Paris, France, June 16-19, 2013) Piscataway, N. J., USA : IEEE.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/NEWCAS.2013.6573663

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	978-1-4799-0618-5
Professeur:	Professeur Boland, Jean-François Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	12 déc. 2013 20:09
Dernière modification:	05 avr. 2018 15:08
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/6231

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