Lafleur, F., Thomas, Marc et Laville, Frédéric. 1998. « Modal analysis of electronic circuits using acoustical sources : methods, results and use ». Communication lors de la conférence : 4th (AST) Accelerated Stress Testing Workshop, IEEE (CPMT) Components, Packaging and Manufacturing Technology Society (Pasadena, CA, USA, Sept., 1998).
Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.| Type de document: | Communication (Communication) |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Thomas, Marc Laville, Frédéric |
| Affiliation: | Génie mécanique |
| Date de dépôt: | 26 févr. 2014 19:25 |
| Dernière modification: | 03 août 2017 15:12 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/7151 |
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