Comparing results from defect-tolerant yield models

Thibeault, Claude et Savaria, Y.. 1992. « Comparing results from defect-tolerant yield models ». In Proceedings 1992 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Dallas, TX, USA, Nov. 4-6, 1992) pp. 22-31. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE).

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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/DFTVS.1992.224366

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	23 déc. 2014 14:55
Dernière modification:	23 déc. 2014 14:55
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9234

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