Circuit level modeling of extra combinational delays in SRAM-based FPGAs due to transient ionizing radiation

Darvishi, Mostafa, Audet, Yves, Blaquière, Yves, Thibeault, Claude, Pichette, Simon et Tazi, Fatima Zahra. 2014. « Circuit level modeling of extra combinational delays in SRAM-based FPGAs due to transient ionizing radiation ». IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 61, nº 6. pp. 3535-3542.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2369424

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Blaquière, Yves Thibeault, Claude
Affiliation:	Autres, Génie électrique
Date de dépôt:	25 févr. 2015 21:50
Dernière modification:	20 févr. 2017 19:15
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9345

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