SIFT-Rank: Ordinal description for invariant feature correspondence

Toews, Matthew et Wells, William III. 2009. « SIFT-Rank: Ordinal description for invariant feature correspondence ». In IEEE Conference onComputer Vision and Pattern Recognition, 2009. CVPR 2009 (Miami, FL, USA, June 20-25, 2009) pp. 172-177. Piscataway, NJ, USA : IEEE Computer Society.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/CVPR.2009.5206849

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	1063-6919
Professeur:	Professeur Toews, Matthew
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	25 juin 2015 15:45
Dernière modification:	05 févr. 2016 22:18
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9750

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