Galup-Montoro, C., Schneider, M. C., Koerich, A. L. et Pinto, R. L. O..
1994.
« MOSFET threshold extraction from voltage-only measurements ».
Electronics Letters, vol. 30, nº 17.
pp. 1458-1459.
Compte des citations dans Scopus : 7.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1049/el:19940979
| Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Lameiras Koerich, Alessandro |
| Affiliation: | Autres |
| Date de dépôt: | 06 juill. 2015 19:46 |
| Dernière modification: | 09 févr. 2016 21:02 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9779 |
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