Wood defect detection using grayscale images and an optimized feature set

Cavalin, P., Oliveira, L. S., Koerich, A. L. et Britto, A. S.. 2006. « Wood defect detection using grayscale images and an optimized feature set ». In IECON 2006 - 32nd Annual Conference on IEEE Industrial Electronics (Paris, France, Nov. 6-10, 2006) pp. 3408-3412.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/IECON.2006.347618

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	1553-572X
Professeur:	Professeur Lameiras Koerich, Alessandro
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	07 juill. 2015 15:59
Dernière modification:	09 févr. 2016 21:02
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9816

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