Schneider, M. C., Galup-Montoro, C., Koerich, A. L. et Pinto, R. L. O..
1994.
« MOSFET threshold extraction from voltage-only measurements ».
In IX Brazilian Microelectronics Congress (SBMICRO'1994) (Rio de Janeiro, Brazil, Aug., 1994)
pp. 216-222.
Compte des citations dans Scopus : 7.
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| Type de document: | Compte rendu de conférence |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Lameiras Koerich, Alessandro |
| Affiliation: | Autres |
| Date de dépôt: | 07 juill. 2015 15:59 |
| Dernière modification: | 09 févr. 2016 21:02 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9859 |
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